基礎から学ぶ半導体の品質・信頼性工学
概要・受講対象
本講座は半導体の品質と信頼性について基礎知識を体系的、工学的に理解、修得します。具体的には品質と信頼性の考え方、物理的解釈と数値表現、試験方法と予測・保証のしかた、高品質・高信頼性に向けた進め方・取り組み、などを学びます。
講師は元熊本大学 客員教授 松田 幸正氏です。
プログラム
※一部変更になる場合がございます
| タイトル | 内容 |
| 1章 品質と信頼性の考え方 | ・品質と信頼性の定義、目的、表現方法 ・品質と信頼性の関係 |
| 2章 信頼性と確率分布 | ・信頼度関数と故障率分布
・半導体の故障率 |
| 3章 故障物理と故障解析 | ・半導体の故障メカニズム
・半導体の故障対策 |
| 4章 信頼性試験 | ・加速の理論と試験方法
・半導体の信頼度予測 |
| 5章 品質と信頼性の保証 | ・品質と信頼性の作り込み
・保証ということ、保証のしかた |
| 6章 まとめ | ・半導体の品質、信頼性確保の進め方
・究極の品質・信頼性 |
開催概要
| 講 師 | 元熊本大学 客員教授 松田 幸正 氏 |
| 開催日 | 令和7年3月4日(火) 10:00～17:00 |
| 開催形態 | ハイブリッド開催（対面＋オンライン） |
| 会 場 | ・対面形式の会場：福岡市早良区百道浜3-8-33 福岡システムLSI総合開発センター 2階 講義室 ・オンライン会場：Zoom Meeting （接続先はお支払い完了後ご案内） |
| 受講料等 | 税込 2,200円 ・対面、オンラインは同価格です。
・申込みには、「ふくおかIST e-learning」 への会員登録が必要です。
・お支払い後、当日の参加有無にかかわらず返金はいたしません。
・福岡県内中小企業の方には、受講料に対する補助制度があります。
・講座当日、全受講者にpdfテキスト配布(コピー、印刷不可。コメント追記可)、対面受講者には紙テキストも配布します。
なおテキストの無断転載・複製等は禁止しています。 ・オンライン受講は2画面(画面拡張モード：Zoom画面とpdfテキスト画面)を推奨します。
・特段の事情が発生した場合、やむを得ず中止又は延期する場合がございます。 |
| 定 員 | 対面 40名 オンライン 90名 |
| 申込み | 令和7年2月27日(木)17:00までに、下記（講座・セミナー等 申込）ボタンより「基礎から学ぶ半導体の品質・信頼性工学」の 対面またはオンラインを選択してお申込みください |
本講座の申込みは終了しました。